[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) 채널간 스큐 보정 - 3’ 주제의 포스팅
[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) 채널간 스큐 보정 - 3’ 주제의 포스팅
전압프로브와 전류프로브는 같은 회사에서 제공한다고 해도, 원리 및 길이에 차이가 있기 때문에 신호 픽업 지점에서 오실로스코프까지 신호를 전달하는 시간이 다를 수 밖에 없습니다.
같은 신호가 오실로스코프에서 시간차를 보이는 것을 스큐(skew)라고 합니다. 이렇게 시간 차가 발생한 상태에서 순간 전력, 평균 전력과 같은 연산을 수행한다면 오차가 발생할 수 있습니다. 따라서 측정을 시작하기전에 반드시 두 프로브 사이의 스큐를 보정해야 합니다. 이 동작을 디스큐Deskew라고 합니다.
텔레다인 르크로이에서는 DSC025라는 deskew 소스를 제공합니다.
그림 2 : 프로브 디스큐 교정 소스(DCS025)를 사용하는 것이 전압, 전류 프로브 사이의 스큐를 보정하는 가장 쉬운 방법입니다.
그림 상단 하강에지에서 deskew 작업을 완료한 파형
그림2에서는 전류 신호(빨강)와 전압 신호(노랑)를 보이고 있습니다. 시각적으로 파형을 이동하는 것보다는 측정 파라미터 detaltime@level 또는 skew라는 파라미터를 적용하여 비교적 정확한 값을 측정하여 프로브 사이의 시간차를 측정하는 것을 추천드립니다.
그림 3. deskew 전후 파형 위치 비교
그림 3에서는 실제 더블펄스 파형을 포착하여 채널 3과채널2 사이에서 측정된 delay 차(skew, 45ns)를 보정 하기 전과 후를 겹쳐서 표시하고 있습니다. 파랑색의 파형의 위치가 변화되고 있음을 알 수 있습니다. deskew 툴을 이용하여 측정된 값을 채널 메뉴의 "Deskew" 항목에 입력함으로써 간단하게 스큐를 보정한 후에 본격적인 측정에 들어 갈 수 있습니다.