기술 그리고 그 이상의 감동이란 사명에 걸맞게
그 어떠한 계측환경에도 대응할수있는 최적의 장비를 제공하겠습니다.
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[Anritsu News] 안리쓰, Field Master 스펙트럼 분석기의 분석 대역폭을 150MHz로 확장하고 트래킹 제너레이터 옵션 추가
[Anritsu News] 안리쓰, Field Master 스펙트럼 분석기의 분석 대역폭을 150MHz로 확장하고 트래킹 제너레이터 옵션 추가 안리쓰는 Field Master 스펙트럼 분석기에 대한 분석 대역폭 확장 및 트래킹 제너레이터 옵션 추가를 발표했다. Field Master 시리즈는 견고한 배터리 구동 핸드헬드 형식에서 벤치탑 수준의 스펙트럼 분석기 성능을 제공함으로써, 다양한 통신 산업 분야에서 활동하는 RF 엔지니어들에게 중요한 도구가 된다. 이번 새로운 소프트웨어 릴리스는 특히 항공우주, 국방 및 보안 서비스 분야에서 IQ 데이터를 캡처해야 하는 사용자들의 애플리케이션을 확장시킨다. 새로운 소프트웨어 옵션을 통해 분석 대역폭은 150MHz로 증가하며, 이는 핸드헬드 계측기에서 사용할 수 있는 가장 넓은 캡처 대역폭이다. 사후 분석을 위한 IQ 데이터 캡처 기능은 불법 또는 인식되지 않은 신호를 식별해야 하는 엔지니어들에게 필수적인 도구가 되었다. 무료로 제공되는 안리쓰 소프트웨어인 MX280005A IQ Signal Master도 확장된 캡처 대역폭을 지원하도록 업데이트되었다. 확장된 대역폭으로 인해 실시간 스펙트럼 분석기(RTSA)의 스팬도 150MHz로 증가하며, Field Master는 간섭을 모니터링하고 간헐적이거나 짧은 기간 동안 발생하는 신호를 탐지하는 데 있어 업계 최고 수준의 성능을 제공한다. MS2080A용 새로운 트래킹 제너레이터 옵션은 듀플렉서, 타워 장착형 증폭기 등을 포함한 증폭기 및 필터의 주파수 응답을 현장에서 측정할 수 있도록 한다. 오프셋 트래킹 기능은 또한 위성 지상국 및 레이더 시스템에서 변환 손실 및 대역폭을 결정하기 위한 주파수 변환기 및 믹서 측정도 지원한다. 이번 릴리스에 포함된 추가 기능은 다음과 같다: ◐ LTE 및 5G용 국가 코드 및 네트워크 사업자 이름 디코딩 ◐ 자동 스마트 THD(총 고조파 왜곡) 측정 ◐ 테스트 커버리지 매핑 이후 두 개의 서로 다른 무선 네트워크 신호 강도 나란히 표시 해당 소프트웨어는 기존 사용자에게 무료로 제공되며, www.anritsu.com에서 다운로드할 수 있다.[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) 채널간 스큐 보정 - 3’ 주제의 포스팅
[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) 채널간 스큐 보정 - 3’ 주제의 포스팅 전압프로브와 전류프로브는 같은 회사에서 제공한다고 해도, 원리 및 길이에 차이가 있기 때문에 신호 픽업 지점에서 오실로스코프까지 신호를 전달하는 시간이 다를 수 밖에 없습니다. 같은 신호가 오실로스코프에서 시간차를 보이는 것을 스큐(skew)라고 합니다. 이렇게 시간 차가 발생한 상태에서 순간 전력, 평균 전력과 같은 연산을 수행한다면 오차가 발생할 수 있습니다. 따라서 측정을 시작하기전에 반드시 두 프로브 사이의 스큐를 보정해야 합니다. 이 동작을 디스큐Deskew라고 합니다. 텔레다인 르크로이에서는 DSC025라는 deskew 소스를 제공합니다. 그림 2 : 프로브 디스큐 교정 소스(DCS025)를 사용하는 것이 전압, 전류 프로브 사이의 스큐를 보정하는 가장 쉬운 방법입니다. 그림 상단 하강에지에서 deskew 작업을 완료한 파형 그림2에서는 전류 신호(빨강)와 전압 신호(노랑)를 보이고 있습니다. 시각적으로 파형을 이동하는 것보다는 측정 파라미터 detaltime@level 또는 skew라는 파라미터를 적용하여 비교적 정확한 값을 측정하여 프로브 사이의 시간차를 측정하는 것을 추천드립니다. 그림 3. deskew 전후 파형 위치 비교 그림 3에서는 실제 더블펄스 파형을 포착하여 채널 3과채널2 사이에서 측정된 delay 차(skew, 45ns)를 보정 하기 전과 후를 겹쳐서 표시하고 있습니다. 파랑색의 파형의 위치가 변화되고 있음을 알 수 있습니다. deskew 툴을 이용하여 측정된 값을 채널 메뉴의 "Deskew" 항목에 입력함으로써 간단하게 스큐를 보정한 후에 본격적인 측정에 들어 갈 수 있습니다.[Anritsu News] ETRI 실내투과형 RIS 기술 개발…안리쓰 2-port VNA로 고정밀 투과 성능 검증
[Anritsu News] ETRI 실내투과형 RIS 기술 개발…안리쓰 2-port VNA로 고정밀 투과 성능 검증 ETRI 실내투과형 RIS 기술 개발…안리쓰 2-port VNA로 고정밀 투과 성능 검증 차세대 고주파 통신 기술로 주목받고 있는 RIS(Reconfigurable Intelligent Surface, 재구성 지능형 표면) 기술 연구에 있어 정확하고 유연한 측정 환경이 핵심으로 떠오르고 있다. RIS는 고주파 신호의 실내 통과를 돕는 기술로, 특히 건물 유리창을 통한 밀리미터파(mmWave) 통신에서 발생하는 전파 감쇠 문제 해결에 큰 가능성을 보이고 있다. 최근 한국전자통신연구원(ETRI)이 공개한 실내 통신용 투명 RIS 기술 실험 장면에서 안리쓰(Anritsu)의 벡터 네트워크 분석기(VNA) MS46122B가 주요 계측 장비로 활용되며, 소형 장비에서도 고정밀 측정 성능을 입증했다. 이번에 개발된 ETRI의 기술은 투명한 PET 필름 형태의 초소형 안테나 배열을 창호에 부착해 별도의 중계기 없이도 신호 투과율을 극대화할 수 있다는 점에서 주목을 받고 있다. 사진 속 실험 환경에서는, 안리쓰의 2-port VNA인 MS46122B 를 이용해 RIS 필름을 부착한 유리와 일반 유리 간의 S-파라미터 및 투과 손실 비교 측정이 진행됐다. MS46122B는 콤팩트한 USB 타입 벡터 네트워크 분석기로, 최대 43.5GHz까지 지원하며, 복잡한 테스트 환경 없이도 실험실 및 현장 환경 모두에서 안정적이고 반복성 높은 측정이 가능하다. 안리쓰 VNA는 이미 다양한 연구기관 및 산업 현장에서 고주파 소재, 안테나, 전파 투과 특성 측정에 활용되고 있으며, RIS 및 메타표면 기술의 성능 정량화를 위한 핵심 측정 장비로 자리매김하고 있다. 또한, 5G-Advanced 및 6G 시대를 대비한 mmWave, FR2, FR3 대역까지 대응 가능한 확장성을 갖추고 있어, 기술 상용화를 준비 중인 연구팀에 이상적인 계측 솔루션이다. 안리쓰 관계자는 “RIS 기술은 고주파 통신에서의 실내 커버리지 문제를 해결하는 핵심 기술”이라며, “안리쓰의 MS46122B는 공간 제약이 있는 실험 환경에서도 고신뢰 측정을 가능하게 하는 소형 고성능 VNA로, RIS 기술의 실효성 검증과 제품화 준비에 기여하고 있다”고 밝혔다.[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) -2’ 주제의 포스팅
[Teledyne LeCroy] ‘GaN, SiC MOSFETs 및 IGBT Devices 측정 (DPT, Double Pulse Test) -2’ 주제의 포스팅 지난 기사에서는 더블 펄스 테스트의 기본에 대해서 말씀드렸습니다. 이어서 더블 펄스 테스트에 필요한 장비에 대해서 간단히 말씀드리겠습니다. 이 기사에서 소개하는 장비들이 반드시 모두 필요한 것은 아니지만 대부분의 더블 펄스 테스트 엔지니어들이 사용하는 장비들을 말씀드립니다. 대부분의 테스트엔지니어들이 기본적인 테스트는 수행하기 때문입니다. 대략 그림 1에서 보이고 있는 장비들이 필요합니다. 각 장비의 특징이나 사양에 대해서는 다루지 않겠습니다. 측정에 필요한 사항은 말씀드리겠지만 테스트에서의 역할은 말씀드릴 생각입니다. 그림 1, DPT 하프 브리지 회로와 측정에 필요한 장비들 더블 펄스 테스트에 필요한 장비 일반적으로는 오실로스코프, 전압 및 전류 프로브, AWG 및 파워 서플라이가 필요합니다. 그림 1의 1, 가장 기본적으로는 오실로스코프가 필요합니다. 오실로스코프는 프로브를 연결할 수 있는 장비이고 포착한 파형의 모양이 어떤 지 화면에서 확인하고, 몇 가지 측정 도구를 이용하여 파형의 특성을 파악하는 것이 오실로스코프의 용도입니다. 최근에는 전력 전자 애플리케이션에서는 12비트 분해능과 8 채널 오실로스코프가 가장 자주 선택되고 있는 추세입니다. 그림 1의 2, 또한 신호를 픽업할 수 있는 프로브가 필요합니다. 오실로스코프에서 무엇인가를 확인하려면 관심있는 회로의 신호를 픽업해야하고 신호와 오실로스코프를 연결하는 장비가 바로 프로브입니다. 전압 용 프로브와 전류 프로브가 별도로 있으며, 전압 프로브의 경우 차동 프로브 또는 수동 프로브, 광 절연 프로브가 측정 위치에 따라 고려됩니다. 세번째로 필요한 장비는 그림1의 3에 표시하 AWG(Arbitrary Waveform Generator)입니다. AFG 또는 AWF 모두 가능합니다. 더블 펄스 테스트에 필요한 더블 펄스 또는 그 이상의 멀티 펄스 파형을 생성할 수 있는 장비입니다. 실제 테스트 대상체의 회로 또는 테스트하려는 회로에 따라 AFG의 출력을 두 개의 FET를 제어할 수도 있습니다. 그림 1의 회로에서는 FET가 두 개가 있고 이론적으로는 AFG의 출력 하나를 위쪽에 연결하고 다른 출력은 아래 쪽에 연결한 다음 AFG를 더블 펄스 또는 멀티 펄스 테스트에 사용하도록 구성할 수 있습니다. 펄스의 폭을 개별적으로 조절할 수 있는 기능을 가지고 있다면 더욱 테스트에 적합합니다. DC 파워 서플라이에서 충분한 전류 사양을 가지고 있지 않다면 펄스 폭을 충분한 시간동안 펄스를 열어 커패시터에 필요한 전류를 얻을 수 있습니다. 그림 1의 4 ~ 5. 그 외에 고전압 전원을 공급하는 파워 소스가 필요합니다. 이것은 회로상의 Vbus 역할을 수행합니다. 측정 대상체가 사용될 최종 인버터의 배터리를 시뮬레이션하는 것이라 여기면 될 것 같습니다. 고전압 소스가 하는 역할은 이 것이 전부입니다.만약, 60V, 500V, 1000V 이상의 DC 전압을 테스트해야 한다면 간단히 그보다 높은 전압을 생성할 수 있는 파워서플라이만 준비되면 됩니다. 그리고 보조 전원 소스가 그림 1의 4에 표시되어 있습니다. 이 파워 서플라이는 더블 펄스 테스트 회로에 실장된 다른 부품들에 전원을 공급하는 전원으로 사용됩니다. 이 다섯 가지가 더블 펄스 테스트에 필요한 가장 기본적인 장비들입니다. 그림 2. DUT에 연결된 다섯 종류의 프로브 측정 이미지 샘플 그림 2는 위에서 말씀드린 장비들로 구성한 더블 펄스 테스트 환경입니다. 엔지니어에 따라 더블 펄스 테스트 대상체의 기판은 다를 수 있습니다. 그림 2에서는 빨강색 원으로 표시한 부품이 측정 대상 회로 기판입니다. 그림 2에서는 여러 종류의 프로브가 오실로스코프에 연결되어 있습니다. 이들 프로브에 대해서는 약간의 설명이 필요해 보입니다. 측정에 필요한 프로브는 스스로 몇 가지 질문을 던져봐야 합니다. 1) 측정에서 다루는 DC 버스 전압은 얼마인지? 60V, 400V, 600V 또는 1000V 이상인지 확인합니다. 2) 하이 사이드 디바이스를 측정할 것인지 아니면 로우 사이드 디바이스가 측정 대상인가? 하이사이드 디바이스 측정에서는 모든 측정 대상 신호가 플로팅 상태입니다. 어떤 신호도 그라운드에 기준을 두고 있지 않습니다. 로우 사이드의 경우, 그라운드 기준 또는 보드 그라운드 기준 신호라고 합니다. 해당 접지가 오실로스코프 접지와 동일한지의 여부는 보드 설계자만 알고 있을 것입니다. 만약 회로의 접지가 오실로스코프의 접지와 같다면 비용을 절약하면서 수동 프로브를 사용할 수도 있습니다. 만약 그라운드 상태가 확인되지 않았다면 보다 안전한 방법을 선택하는 것이 좋습니다. 측정위치에 따라 예를 들어 하이사이드 측정에서는 어떤 상황에서도 수동 프로브를 사용할 수는 없습니다. 차동 프로브를 사용할 때도 프로브의 공통모드 제거 비의 사양을 고려해야 할 수 도 있습니다. 3)포착하려는 신호는 어떤 신호인가? 드레인과 소스를 측정하는 지 아니면 컬렉터와 이미터 사이의 전압을 측정하려는 지 확인하십시오. 또는, 하이 사이드와 로우 사이드 디바이스를 동시에 측정하려는 지의 조건을 먼저 생각하십시오. 프로브를 선정하는 가장 쉬운 방법은 www.teledynelecroy.com/powerprobes에서 선택 가이드를 확인해보는 것이 가장 좋은 방법입니다. 텔레다인르크로이의 프로브를 광고하려는 것이 아니고 해당 프로브가 왜 필요한 지 설명이 추가되어 있어서 가장 적절한 프로브의 종류를 찾을 수 있습니다. 전류 측정 전류 측정에 대한 말씀도 드려야겠죠? 더블 펄스 테스팅에서 항상 중요하고 고려해야할 대상중 하나입니다.그림 3의 인피니언 데이터 시트에서 발췌한 이미지입니다. 전류를 측정 방법이 한 가지 방법만 존재하는 것은 아닙니다. 몇 가지 방법을 소개해드리겠습니다. 그림 3. Shunt R로 구성된 전류 측정 회로의 예, Infineon EVAL-COOLSIC-2kVHCC manual 1) 션트 저항 이용 그림 3에서는 로우 사이드 디바이스 바로 밑에 션트 저항이 연결되어 있습니다. 저항은 전류가 흐르는 경로에 추가하는 매우 낮은 값의 저항입니다. 회로에 흐르는 전류를 방해하지 않으려면 값이 낮아야 합니다. 전류를 측정할 수 있을 만큼 충분히 작아서 옴의 법칙을 사용하여 션트 저항의 양단 전압을 측정하여 회로에 흐르는 전류를 계산할 수 있습니다.하지만 션트 저항 값이 작아질 수록 전력 등급이 낮아지고 션트 저항에서 소비되지 않고 션트를 통과할 수있는 전류의 양도 낮아집니다. 션트 저항의 균형을 맞추는 것이 중요합니다. 어떤 경우에는 잘 측정되기도 하고 전류 측정에 좋은 방법일 수도 있습니다. 실제로 큰 전압과 매우 큰 전류를 측정하는 경우에는 원하는 결과를 얻지 못할 수도 있습니다. 중간 크기의 로우 사이드 측정에서는 측정에 좋은 대안이 될 수 있습니다. 많지는 않지만 하이 사이드 디바이스를 측정할 때 흐르는 전류를 확인하기 위해서 윗쪽 라인의 중앙에 션트 저항을 배치하는 경우도 있습니다. 2) 전류 프로브 전류를 측정하는 다른 방법으로는 특히 아주 큰 전류를 테스트하려고 할 때는 션트 저항 위치에 루프를 만들고 오실로스코프 제조사에서 공급하는 기본 전류 프로브를 이용하여 루프에서 전류를 측정할 수 있습니다. 전류 값이 클 수록 인덕터 부하로 인해 슬루 레이트가 느려지기 때문에 전압 프로브에서 필요한 수 MHz 심지어 수 GHz까지의 높은 대역폭을 요구하지는 않습니다. 일부 엔지니어들은 특히 전류를 측정하기 위해 PCB에서 미리 전류 프로브 연결이 가능하도록 루프를 회로에 미리 구성하는 경우도 있습니다. 이 방법은 PCB에 루프를 구성하는 약간의 인덕턴스가 추가되고 정확한 값을 알아야합니다. 생성한 루프로 인해 오실로스코프에서 측정된 결과에 만족할 수 없다면 측정용으로 구성한 PCB 회로 자체를 사용할 수 없게될지도 모를 일입니다. 3) Rogowski 코일 만약 스위칭 손실에 초점을 맞추고 있다면 Rogoswki 코일도 좋은 옵션으로 선택할 수 있습니다. 물론 측정 대상 신호의 물리적인 형태도 고려해야합니다. SMD 타입의 스위칭 디바이스에는 Rogoski 코일의 루프를 연결하는 일이 힘들 수도 있습니다. 스위칭 손실에만 관심이 있다면 Rogoski 코일도 나쁘지 않은 선택인 것은 확실 합니다. 4) 전류 센싱 회로 또는 센서 사용 또 다른 방법은 PCB에 전류 센서를 내장하는 방법입니다. 션트 저항대신 전류 센서 IC를 장착하여 정확한 전류 값을 측정하는 방법입니다. (참조 : Low-side 전류 센싱 회로 설계, Rev.005 , Rohm) 그림 4. Shunt 저항기 및 Rogowski Coil, CP030B 전류 프로브 이 상에서 더블펄스 테이스를 수행하기위해 필요한 장비에 대해서 말씀드렸습니다. 측정에서 가장 고려해야 할 사향은 아무래도 적합한 프로브를 어떻게 선택하느냐입니다. 프로브 선택 가이드 링크에서 적합한 프로브를 고려해보시는 것을 추천드립니다. 이 외에도 전압과 전류 프로브 사이에서 발생하는 스큐를 어떻게 보상하고 보상 전 후의 차이는 어떤지에 대한 부분도 고려해야할 사항입니다.