MS9740B
MS9740B 광 스팩트럼 분석기
- 제품설명탁상형 광학 스펙트럼 분석기 MS9740B는 넓은 동적 범위, 높은 분해능 및 빠른 스위프 속도를 제공합니다. 다중 모드 광섬유 입력을 지원하며 850nm 대역 VCSEL 모듈을 제조하고 평가하는 데 이상적입니다.
- 제조사Anritsu
- 원산지JAPAN
- 예상가격 견적문의
설명
광 액티브 디바이스의 평가 시간을 기존 제품의 1/2 이하로 단축한 광 스펙트럼 분석기 MS9740B
차세대 5G 모바일 및 클라우드 서비스의 광섬유 통신에 사용되는 광 액티브 디바이스 제조 현장의 생산성 향상에 공헌
광 스펙트럼 분석기 MS9740B의 제품 개요
광 스펙트럼 분석기 MS9740B는 광역 다이내믹 레인지, 고분해능, 고속 소인을 실현한 벤치 탑형 광 스펙트럼 분석기입니다. 파장 범위, 600nm~1750nm. 멀티 모드 파이버 입력에 대응하며, 850nm대의 VCSEL 제조ㆍ평가에 최적입니다.
MS9740B는 기존 제품 MS9740A의 기능ㆍ성능을 계승하면서 고속화에 의한 측정 감도 악화와 같은 문제점을 극복하였으며, 측정 처리 시간 1/2 이하*를 달성했습니다.
또한 광 디바이스 평가에 필요한 광 액티브 디바이스의 측정 메뉴(LD-Module, DF-LD, FP-LD, LED,pmD, WDM, Opt Amp, WDM Filter) 화면을 유지하며, 제조 공정에서 평가 기준이 되는 광의 중심 파장 및 레벨, OSNR, 스펙트럼 폭 등을 일괄 측정하여 그 분석 결과를 한 화면에 표시할 수 있습니다.
*: 수광 대역폭 설정: 1kHz 또는 200Hz 대역
GPIB Interface, SMSR Measurement Time (DFB Light Source), VBW: 1 kHz_Fast (MS9740B)/1 kHz(MS9740A) Setting, 0.1-nm Resolution, 30-nm Sweep Width, 1001 Sample Points
기능
광 스펙트럼 분석기 MS9740B의 특징
◐ 광 액티브 디바이스의 생산 라인에서 고객이 주로 사용하는 수광 대역폭에서 광역 다이내믹 레인지와 고속 측정을 동시에 실현
- 45dB 이상의 SMSR 측정
- 측정 처리 시간* 최고 속도 0.35초(30nm의 파장 소인)
◐ 다양한 제조 환경에 적응한 기존 제품의 기본 기능ㆍ성능을 계승
- 모든 광 액티브 디바이스 평가에 대응한 넓은 파장 대역(600nm~1750nm)
- LD 모듈, WDM 등의 광 액티브 디바이스 측정 애플리케이션 메뉴
◐ SM 파이버, MM 파이버에 1대로 대응
◐ 저소비 전력화(75VA), 경량화(15kg 이하)
*: Fast 모드 소인 시. 파장 소인, 분석, 원격 서버에 대한 데이터 전송까지 일련의 시간
규격
| 규격 | 사양 | |
|---|---|---|
| MS9740B | MS9740B-009 | |
| 적합 광섬유 | SM 파이버(ITU-T G.652), 50μm/125μm GI 파이버 | SM 파이버(ITU-T G.652), 50μm/125μm GI 파이버, 62.5μm/125μm GI 파이버 |
| 광 커넥터 | 사용자 교환 가능 타입 FC, SC, ST, DIN | |
| 측정 파장 범위 | 600nm~1750nm | |
| 파장확도＊1 | ±20pm(1520nm~1620nm, 분해능: 0.03nm~0.2nm)＊2 ±100pm(1520nm~1620nm, 분해능: 0.5nm, 1.0nm)＊2 ±300pm(600nm~1520nm)＊3 ±200pm(1520nm~1570nm)＊3 ±300pm(1570nm~1750nm)＊3 |
±50pm(1530nm~1570nm, 분해능: 0.07nm~0.2nm)＊2 ±100pm(1530nm~1570nm, 분해능: 0.5nm, 1.0nm)＊2 ±300pm(1570nm~1750nm)＊4 |
| 설정 분해능 | 0.03, 0.05, 0.07, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0nm (0.03nm, 0.05nm는 1550nm대, 상온 한정) |
0.07, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0nm |
| 최대 입력 파워 | +23dBm(광 ATT: On) | |
| 다이내믹 레인지＊1 | 하이 다이내믹 레인지: 70dB(피크 파장에서 ±1nm), 60dB(피크 파장에서 ±0.4nm), 42dB(피크 파장에서 ±0.2nm) 노멀 다이내믹 레인지: 62dB(피크 파장에서 ±1nm), 58dB(피크 파장에서 ±0.4nm), 42dB(피크 파장에서 ±0.2nm) 모두 파장: 1550nm, 분해능: 0.05nm, 20~30℃, 광 Att: 오프 |
하이 다이내믹 레인지: 70dB(피크 파장에서 ±1nm, 20~30℃), 60dB(피크 파장에서 ±0.5nm, 20~30℃) 65dB(피크 파장에서 ±1nm, 5~45℃), 55dB(피크 파장에서 ±0.5nm, 5~45℃) 노멀 다이내믹 레인지: 62dB(피크 파장에서 ±1nm, 20~30℃), 58dB(피크 파장에서 ±0 .5nm, 20~30℃) 57dB(피크 파장에서 ±1nm, 5~45℃), 53dB(피크 파장에서 ±0.5nm, 5~45℃) 모두 파장: 1550nm, 분해능: 0.07nm, SM 파이버 사용 시, 광 Att: 오프 |
| 소인＊1 | 소인 속도: ≦0.2초(스팬: 5nm, 분해능: 0.1nm), ≦0.3초(스팬: 500nm) [VBW: 10kHz, 노멀 다이내믹 레인지, 중심 파장: 1550nm(스팬: 5nm일 때), 1200nm(스팬: 500nm일 때), 소인 시작부터 종료까지, 광 입력 없음, 샘플링 포인트: ≦501] 소인 속도: 0.35초/30nm(대표값) [VBW=1kHz Fast, 중심 파장: 1550nm, 분해능 0.1nm, 소인 시작부터 종료까지, 광 입력 있음(가변 파장 광원, -10dBm, 1파), 샘플링 포인트: ≦1001] 소인 속도: 1.65초/30nm(대표값) [VBW: 200Hz Fast, 중심 파장: 1550nm, 분해능 0 .1nm, 소인 시작부터 종료까지, 광 입력 있음(가변 파장 광원, -10dBm, 1파), 샘플링 포인트: ≦1001] |
|
| 치수ㆍ질량 | 426(W)×177(H)×350(D)mm(돌기부는 제외), ≦15.0 kg(옵션 미포함) | |
＊1: 워밍업 2시간 이상(단, 워밍업 중에는 스팬 100nm 이상, VBW 10kHz 이상으로 Repeat 소인 실시할 것), 특별한 지정이 없는 것은 자동 광축 조정 후에 파장 교정(이하, Wl Cal)을 실시하며 온도가 일정할 것. 또한 사용하는 커넥터는 SM 파이버(ITU-T G.652), GI 파이버(50μm/125μm)는 반사 감쇠량 40dB 이상, GI 파이버(62 .5μm/125μm)는 반사 감쇠량 38dB이상일 것.
＊2: 파장 교정용 광원 옵션을 내장하였으며, 파장 교정 Wl cal(ref)을 실시한 후, 온도가 일정할 시
＊3: 단일 세로 모드 광원(DFB-LD 등)의 외부 광원 파장 교정 Wl cal(Ext) 실시 후, SM 파이버 사용 시
＊4: 단일 세로 모드 광원(DFB-LD 등)의 외부 광원 파장 교정 Wl cal(Ext) 실시 후, SM 파이버, GI 파이버(50μm/125μm), (62.5μm/125μm) 사용 시